全新一代 | 極致性價比：低成本短波紅外工業(yè)相機首選
—MV-GEC30I—
InGaAs探測器|千兆網口|支持ROI
產品特色：
·InGa As探測器，響應波長0.4~1.7um
·黑電平矯正，圖像均勻性好
·千兆網接口，兼容vision標準
·專為低照度科研短波紅外成像和顯微成像設計
·分辨率640*512,幀率可達241FPS，支持ROI
·免驅直接支持halcom、visionpro等軟件，易于系統(tǒng)集成
產品參數(shù)：
| 分辨率&幀率 | 640×512&241FPS | 相機類型 | 黑白 |
| 傳感器類型 | 1/4″CMOS | 像元尺寸 | 5.0um×5.0um |
| 快門類型 | 全局快門 | 有效像素 | 30萬 |
| 靈敏度 | 121mv1/30s | 最大增益 | 126（倍數(shù)） |
| 曝光時間范圍 | 0.007~2150.4ms | 采集模式 | 連續(xù)/軟觸發(fā)/硬觸發(fā) |
| 功率 | ＜12W（包含制冷） | 外形尺寸 | 69×69×44mm |
| 重量 | ＜500 | 制冷工作 | 半導體制冷，可制冷環(huán)境溫度差20度 |
| 工作溫度 | 0~40℃ | 工作濕度 | 20~80%（無凝結） |
| 儲存溫度 | -30~60℃ | 鏡頭接口 | C口 |
光譜圖：
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應用領域：
應用案例：
01|檢測水分
水在SWIR波段具有明顯的吸光條帶
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因此可輕松檢測出水果和蔬菜上的瘀傷
02|檢測異物
在SWIR波段范圍內，物質會表現(xiàn)獨特的反射光譜，方便可靠地檢測雜質成分
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03|巧用SWIR波段透明度
硅基材料和某些聚合物在SWIR波段呈現(xiàn)透明狀
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基于這種透明狀態(tài)，可檢測晶圓或封裝集成電路等產品以及不透明容器（例如容器中的料位檢測）
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